En comparación con la norma IEC 61643-01:2024, la versión IEC 61643-11:2025 incorpora los siguientes cambios técnicos significativos:
Introducción a IEC 61643-11:2025
IEC 61643-11:2025 se basa en IEC 61643-01:2024 y agrega elementos de prueba específicos aplicables a sistemas de CA. Estas pruebas están configuradas para SPD que se conectarán a circuitos de suministro de CA alimentados por fuentes que tienen una característica de voltaje-corriente lineal. Se requiere una consideración especial si el SPD se va a conectar a otras formas de fuentes de energía o fuentes con diferentes frecuencias.
Anexo G: Procedimientos de prueba para SPD que combinan la funcionalidad de protección contra cortocircuitos y protección contra sobretensiones (no separables)
El SPD descrito en el Anexo G consta de dos partes conectadas en serie: una es una unidad compuesta que integra tanto la función de protección contra sobretensiones como la función de protección contra cortocircuitos (esta unidad compuesta es integral y no se puede separar físicamente durante las pruebas o la preparación de la muestra), y la otra es un componente de protección contra sobretensiones (SPC), que generalmente incluye componentes de conmutación o limitación de voltaje. Los DPS con funciones de protección combinadas requieren pruebas específicas de cortocircuito y sobrecarga.pruebas, las cuales requieren la preparación de muestras de prueba especiales.
1. Prueba de cortocircuito
* Se deben preparar tres muestras “Tipo A” y tres muestras “Tipo B”. Cada muestra se analiza individualmente. Se puede utilizar suministro de CA o CC, dependiendo de cuál facilite un flujo estable de corriente de prueba a través de la muestra. La amplitud de corriente está entre 1A y 20A, según lo declarado por el fabricante. El voltaje de la fuente en condiciones de circuito abierto no debe ser inferior a 1200 V y debe ser lo suficientemente alto como para mantener una corriente estable a través de la muestra.
* Se realiza una prueba de sobrecarga en las muestras “Tipo A”. El voltaje de prueba se aplica a través de la muestra y la resistencia en el circuito de prueba se ajusta para lograr la corriente requerida hasta que la muestra falla (ya sea en cortocircuito o en circuito abierto). Se registra la duración de la prueba. Este procedimiento se repite para las otras dos muestras “Tipo A”, y la duración más larga entre las tres se utiliza como punto de referencia para determinar la duración de la prueba para las muestras “Tipo B”. Las muestras “Tipo B” sonluego se prueba siguiendo el mismo procedimiento, pero la duración de la prueba se establece en la duración más larga de las muestras “Tipo A” más 0,5 segundos.
* Después de la prueba, las muestras de Tipo B seguirán proporcionando la función de protección contra cortocircuitos, verificada de la siguiente manera:
* La amplitud del voltaje de impulso debe corregirse según la altitud. No debe producirse ninguna descarga ni rotura durante la aplicación de la onda de impulso de 1,2/50 μs.
2. Prueba de sobrecarga
* Para verificar el rendimiento integral del SPD, considerando que las corrientes de impulso conducidas durante su vida útil podrían afectar negativamente su capacidad de protección contra cortocircuitos, se requiere una prueba de preacondicionamiento adicional (prueba de funcionamiento) antes de la prueba de cortocircuito para todas las muestras preparadas.
* Se preparan seis muestras “Tipo A” y seis “Tipo B”. Para las muestras “Tipo A”, la pieza que combina protección contra sobretensiones y cortocircuitos se reemplaza por un bloque de cobre apropiado, mientras que las conexiones internas, las secciones transversales, los materiales circundantes (por ejemplo, resina) y el embalaje permanecen sin cambios. Para las muestras “Tipo B”, el componente de protección contra sobretensiones (SPC) conectado en serie con la función de protección combinada se reemplaza por un bloque de cobre apropiado, manteniendo otros aspectos físicos.
* Las muestras preparadas “Tipo A” y “Tipo B” se conectan en serie para la prueba de preacondicionamiento (prueba de funcionamiento).
* Utilice las muestras Tipo B preacondicionadas para la prueba de cortocircuito: tres muestras se someten a la prueba de corriente nominal de cortocircuito declarada (Isccr); los otros tres se someten a una prueba de corriente de cortocircuito baja, donde la corriente de prueba se calcula como: Imín./Imín. + 0,05 ×(yoSCCR − yomín. )/Imín. + 0,1 ×(yoSCCR − yomín. ). Cada muestra se prueba con un valor actual.
* Dado que las muestras tipo B tienen protección combinada, es posible que la corriente de cortocircuito no necesariamente fluya a través de ellas cuando se aplica Utest; por lo tanto, active la corriente de cortocircuito utilizando corriente de impulso o una onda combinada según la clasificación: para muestras de clase T1 y T2, se aplica una corriente de 3 kA, 8/20 μs con amplitud igual a Iimp o In (la que sea menor); para muestras de clase T3, se aplica una onda combinada de 6 kV o Uoc (lo que sea menor). Si la corriente de cortocircuito no puede serAl activarse con estos niveles, la amplitud se puede aumentar hasta Iimp, In o Uoc.
* Después de la prueba, además de cumplir con los criterios de cortocircuito, se aplica el siguiente requisito adicional: después de que opere el seccionador, aplique un impulso de 1,2/50 ps y verifique:
3. Prueba de sobrecarga dedicada
* Esta prueba no requiere una preparación especial de la muestra, pero debe realizarse en cada modo de protección de la muestra. En base al valor Uc de los diferentes modos de protección, se aplica una tensión de preacondicionamiento a ese modo, graduada de la siguiente manera:
*Cuando Uc ≤ 180V:
*Cuando 180 V < Uc ≤ 440 V, el voltaje de preacondicionamiento es 1200 V.
*Cuando Uc > 440 V, el voltaje de preacondicionamiento es 3 veces Uc.
* El voltaje de preacondicionamiento se aplica durante 5 segundos, durante los cuales la posible corriente de cortocircuito a través de la muestra está entre 1 A y 20 A, según lo declarado por el fabricante. Después del voltaje de preacondicionamiento, se aplica el voltaje Utest durante 5 minutos, o si un seccionador interno o externo en la muestra funciona durante el preacondicionamiento, se aplica el Utest durante al menos 0,5 segundos después de que funciona el seccionador. Durante la aplicación de Utest, la posible corriente de cortocircuitoa través de la muestra se establece en 100A, 500A, 1000A o ISCCR, seleccionado en función de las condiciones reales (no todos los valores se prueban necesariamente para cada muestra).
* Si todas las mediciones del primer conjunto de muestras (configuración de prueba para 100 A) cumplen con los siguientes criterios, es posible que no sean necesarias más pruebas con corrientes más altas:
* Los criterios de aprobación/rechazo después de la prueba difieren dependiendo de si la muestra experimentó desconexión.
4. Procedimiento de prueba simplificado para modos de protección conectados en serie
Este procedimiento simplificado se puede aplicar a muestras como 3P+NPE o 1P+NPE, que pueden tener múltiples modos de protección (por ejemplo, L-N, N-PE, L-PE, L-L). Dado que el modo de protección L-PE es esencialmente una combinación en serie de los modos de protección L-N y N-PE, probar los tres modos por separado de acuerdo con los requisitos estándar podría llevar a pruebas redundantes para el modo L-PE. Por lo tanto, la norma especifica un procedimiento de prueba simplificado para modos de protección conectados en serie (por ejemplo, L-PE).
Un modo de protección conectado en serie (por ejemplo, L-PE) se puede probar utilizando el procedimiento simplificado solo si cumple con todas las condiciones siguientes:
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